| 0:00 | 1:00 | 2:00 | 3:00 | 4:00 | 5:00 | 6:00 | 7:00 | 8:00 | 9:00 | 10:00 | 11:00 | 12:00 | 13:00 | 14:00 | 15:00 | 16:00 | 17:00 | 18:00 | 19:00 | 20:00 | 21:00 | 22:00 | 23:00 | |
SUSS-WETBENCH
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VERIOS
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ML3-BABY
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KRATOS-XPS
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MIRA-STAN
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WITEC-RAMAN
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RIE-FLUORINE
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TEGRAMIN
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UHV-XPS
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RAITH
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LEICACOAT-STAN
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NANOSAM
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CRYOGENIC
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RIGAKU3
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SCIA
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WOOLLAM-RC2
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R4…
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UHV-SPM
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||||||||||||||||||||||||
HELIOS
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LYRA
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LITESCOPE-MIRA…
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||||||||||||||||||||||||
CHEMLAB-B1.16
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||||||||||||||||||||||||
SPONGEBOB
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R2-PECVD
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ZETASIZER
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UHV-LEEM
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FUMEHOOD…
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||||||||||||||||||||||||
FUMEHOOD…
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NANOCALC
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UHV-DEPOSITION
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ICON-SPM
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LASER-DICER
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WOOLLAM-VIS
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LIBS-FireFly
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BET-DEGASSER
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||||||||||||||||||||||||
CHEMLAB-B1.14
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||||||||||||||||||||||||
NANOINDENTER
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||||||||||||||||||||||||
CHEMLAB-B1.18
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TITAN
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VACUUM_OVEN-C1…
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||||||||||||||||||||||||
RSA
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DRYING_OVEN-B1…
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||||||||||||||||||||||||
VERSALAB
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BET-ANAMET
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||||||||||||||||||||||||
DRIE
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||||||||||||||||||||||||
DHR
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UHV-PREPARATION
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SW-LAB
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||||||||||||||||||||||||
STEMI
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SW-BEAMER
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PARYLENE-SCS
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||||||||||||||||||||||||
SHAKER-B1.18
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||||||||||||||||||||||||
MINIFLEX
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SPINCOATER…
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||||||||||||||||||||||||
Q-LAB
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||||||||||||||||||||||||
RTP
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||||||||||||||||||||||||
ACCURION_RSE
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||||||||||||||||||||||||
SUSS-RCD8
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DIENER
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RIE-CHLORINE
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||||||||||||||||||||||||
nanoCT
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SUMMIT
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||||||||||||||||||||||||
nano-CT
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MIRA-EBL
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SNOM-NANONICS
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||||||||||||||||||||||||
LEICA-TXP
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SIMS
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||||||||||||||||||||||||
SEE-SYSTEM
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||||||||||||||||||||||||
LaserMIRA
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SW-TRACER
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||||||||||||||||||||||||
3D-PRUSA-XL
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||||||||||||||||||||||||
TENUPOL
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VACUUM_OVEN-B1…
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||||||||||||||||||||||||
US-CUTTER
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DWL
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||||||||||||||||||||||||
JASCO
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||||||||||||||||||||||||
JAZ3-CHANNEL
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FTIR-CHEMLAB
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||||||||||||||||||||||||
FTIR
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CITOVAC
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VACUUM_OVEN-B1…
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||||||||||||||||||||||||
UHV…
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VUVAS
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VISCOMETER
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L450
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WIRE-BONDER
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XEF2
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RIGAKU9
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microCT
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ZWICK
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ULTRAFAST-LASER
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UHV…
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FISCHIONE-160
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TGA96
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AMBER
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Test Ondra 3
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Test O2
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TEST2
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Test školení
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TEST-RFID2
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MIRKA
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THEORY-SUPPORT
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UHV-CLUSTER
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Heliscan
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TGA-DISCOVERY
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UHV-MBE2
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UHV-MBE1
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UHV-FTIR
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UHV-LEIS
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UHV-MBE
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UHV-PLD
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SAW-ACCUTOM
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DSC-DISCOVERY
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PECVD
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FTIRMAG
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SW-CT
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DIMPLING…
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LECTROPOL
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EVAPORATOR
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ELECTROWORKSHOP
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FLOWBOX
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4-POINT
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FUMEHOOD…
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TIC3X
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FUMEHOOD-HF
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FUMEHOOD…
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||||||||||||||||||||||||
FUMEHOOD…
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||||||||||||||||||||||||
FUMEHOOD…
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CLARUS-680
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Micromex
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micro-CT-L240
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CRYOMILL
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CPD
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DAWN-HELEOS
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DISCO-DICING…
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GLOVEBOX…
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ALD-BENEQ
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APCVD-Diffusion
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ARES
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APCVD
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NANOWIZARD
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ALD-FIJI
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BAMBULAB
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MINIEVAP
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BRILLOUIN
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TORNADO-M4
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MECHANICAL…
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| CEITEC-NANO | ||||||||||||||||||||||||
TUBE-FURNACE
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CLR-ISO8-Lab…
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SW-COMSOL
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LEXT
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micro-CT-m300
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VNA-MPI
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TEM-SW
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NANOSCAN
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SUSS-MA8
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DEKTAK
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LABOTOM5
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WOOLLAM-MIR
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MPS150
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MONOWAVE
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CITOPRESS
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NIKON-NANO
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HENRY-MAGNET
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NIRQUEST512
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NMR
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ZEISS-NANO
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ULTRACENTRIFUGE
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3D-PRUSA-BLUE
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3D-PRUSA-BLACK
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3D-PRUSA-ORANGE
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PARYLENE-DIENER
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MAGNETRON
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KERR-MICROSCOPE
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PECVD-NANOFAB
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K70
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LEICACOAT-NANO
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FRASCAN
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IS_NOVOCONTROL
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ZEISS-STAN
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FISCHIONE-TEM…
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KAUFMAN
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IR-RAMAN
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KEITHLEY-4200
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LVEM
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LAURELL-NANO
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LIBS-Discovery
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LIBS-LabSys1
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LITESCOPE-LYRA
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LPCVD-polySi
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LPCVD-SiN
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LAKESHORE
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PROTOMAT
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UV-LASER
|
| Term | Name | Description | Max. attendees |
|---|---|---|---|
| 17.2. 09:30 - 12:30 | DLS-ZetaSizer Part 1+2 | This training will provide hands-on practice with basic methods for measuring particle size using the DLS technique. The session will cover: -An overview of DLS principles, including light scattering and Brownian motion. -Step-by-step guidance on preparing samples for size and zeta potential measurements. -The use of different measurement cells (e.g., disposable and reusable cuvettes) and their applications for specific types of samples. Practical demonstration of data acquisition, optimization of measurement parameters, and analysis using the Malvern software interface. By the end of the training, participants will gain both theoretical insights and practical expertise in using the Malvern device for comprehensive particle characterization. Attendees: Ammar AL Soud | 3 |
| 17.2. 14:00 - 15:00 | Vacuum Drying Oven | Vacuum Oven basic training Attendees: Sára Hrdinová | 2 |
| 19.2. 09:30 - 12:00 | ICON-SPM basic training | 3 | |
| 20.2. 08:30 - 14:30 | LYRA advanced training - FIB, GIS, nanomanipulator | The training focused on FIB, GIS, and the nanomanipulator. We will meet in the LYRA lab. Attendees: Pavel Klok, Cyril Delforge, Ivana Kratochvílová, Elisa Cuccu | 4 |
| 23.2. 09:00 - 13:00 | Verios_basic (1/2) | Verios_basic (1/2): training for new users, demonstration part. Meeting point: entrance to StAn CLR labs (bldg. A, 1st floor). Bring your cleanroom stationery set if you have one. Register one slot for the Verios_basic (2/2) hands-on session to complete the training curriculum. Attendees: Jan Klíma, Jakub Krčma, Kryštof Jasenský | 3 |
| 23.2. 10:30 - 11:15 | Nanofab interview - Meeting room C2.11 or C2.07 | This interview is mandatory for enrollment to the Safety excursion - Nanofabrication lab. ID schůzky: 347 469 442 329 50 Přístupový kód: Nh7js27A | 5 |
| 24.2. 10:00 - 11:30 | Ultracentrifuge training | The introduction and manipulation with the ultracentrifuge and rotors Attendees: Jan Kotouček, Monika Kreuzerová | 2 |
| 24.2. 12:15 - 12:50 | Safety excursion Chem lab | The Moodle course, Advanced Chemical Laboratory is MANDATORY for the Safety Excursion. https://cfmoodle.ceitec.vutbr.cz/course/index.php?categoryid=48. It must be finished 2 work days before the excursion. Attendees: Ekaterina Pribytova | 5 |
| 24.2. 13:00 - 13:50 | Safety excursion - Nanofabrication lab | Please enroll in this training only in parallel with the "Nanofab interview." Do not enroll in training ahead of time, but when you are sure you will be using nanofabrication techniques. It is possible to pass this training anytime during your access additionally (it takes place at least once a month). | 5 |
| 24.2. 13:55 - 14:20 | Safety excursion - Nanocharacterization lab | Attendees: Hasan Ali | 10 |
| 24.2. 14:25 - 14:55 | Safety excursion - StAn lab | Attendees: Eduard Jelínek, Hasan Ali | 10 |
| 27.2. 08:30 - 11:00 | LYRA basic training for MIRA experienced users | The training focused on the SEM part of the LYRA system. We will meet in the coffee room next to the user office in the C building. Attendees: Pavel Klok | 4 |
| 27.2. 09:00 - 10:30 | Verios_basic (2/2) | Verios_basic (2/2): hands-on session. Bring your real sample(s) with you. Attendees: Kryštof Jasenský | 1 |
| 27.2. 09:30 - 11:30 | MIRA-STAN for returning users | Renewing the certificate for long-inactive users. Meeting point at the microscope. Attendees: Michela Sanna, Martin Kovařík | 2 |
| 27.2. 10:30 - 12:00 | Verios_basic (2/2) | Verios_basic (2/2): hands-on session. Bring your real sample(s) with you. Attendees: Jakub Krčma | 1 |
| 27.2. 12:30 - 14:00 | Verios_basic (2/2) | Verios_basic (2/2): hands-on session. Bring your real sample(s) with you. Attendees: Jan Klíma | 1 |
| 17.3. 09:00 - 17:00 | Helios_basic (1/2) | Helios_basic (1/2): training for new users, demonstration part. Meeting point: entrance to StAn CLR labs (bldg. A, 1st floor). Bring your cleanroom stationery set if you have one. Register one slot (only) for the Helios_basic (2/2) hands-on session to complete the training curriculum. Attendees: Jiří Spousta, Jan Pišťák | 3 |
| 27.3. 09:30 - 16:30 | MIRA-STAN 1/2 | Meeting point at the microscope. This is a two-step training, register for part 2 in our booking system. Obligatory prerequisites must be completed 2 days before the training. More information about the training is available on our <a href=”https://cfmoodle.ceitec.vutbr.cz/course/view.php?id=76”>Moodle</a>. | 4 |